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型号:TEB-600PF
浏览量:361
更新时间:2025-10-30
价格:58000
在线留言| 品牌 | 广皓天 | 产地 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 温度范围 | -70℃~+150℃ | 升温时间 | +20℃-+150℃约30min |
| 降温时间 | +20℃→-20℃≤30min | 绝缘材料 | 硬质聚氨酯泡沫塑料(箱体用)玻璃棉(箱门用) |
| 制冷方式 | 机械式双级压缩制冷方式(气冷冷凝器或水冷换热器) | 外壳材料 | 防锈处理冷轧钢板士2688粉体涂装或SUS304不锈钢 |
生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。
快温变小型高低温试验箱 元器件耐温验证
控制核心: 采用高精度PID智能控制器,具备自整定功能,能快速响应温度变化,确保控制精确稳定。
传感器: 使用铂电阻PT100,测量准确,长期稳定性好。
控制策略: 采用PID+模糊算法,能预见温度变化趋势,实现精确控制,在高温和低温设定点均无过冲,保证测试条件的严苛性与重复性。
人机界面: 大尺寸彩色触摸屏,支持多段程式编程,可设置复杂的温度循环曲线,并实时显示运行状态和曲线,数据可记录导出。


本设备专用于:
对集成电路(IC)、芯片、电阻、电容、电感、晶体振荡器、模块等电子元器件进行高低温储存试验。
执行温度循环应力筛选,用于剔除早期失效产品,提高批次可靠性。
验证元器件的工作温度范围及极限耐受能力。
进行元器件的特性测试,分析其电性能参数随温度变化的规律。
温度范围: -70℃ ~ +150℃ (可根据元器件验证等级选择-40℃~+125℃等范围)
升温速率: 3℃ ~ 10℃/min (非线性,空载)
降温速率: 3℃ ~ 8℃/min (非线性,空载)
温度波动度: ±0.5℃
温度均匀度: ±2.0℃
内容积: 30L ~ 100L (适合中小批量元器件测试)
观察窗: 多层中空电热防霜玻璃,便于观察。


在电子制造业中,元器件耐温验证至关重要:
提升产品可靠性: 是确保整机产品质量的基础,通过筛选和验证,可大幅降低因元器件环境适应性不足导致的整机故障率。
降低市场风险: 提前识别并淘汰有缺陷的元器件,避免昂贵的现场维修和品牌声誉损失。
加速研发进程: 为设计工程师提供关键的可靠性数据,支持其进行正确的元器件选型和电路设计。
设备性能满足以下主流国内外测试标准:
JESD22-A104: 温度循环
JESD22-A101: 稳态温度湿度偏置寿命测试
MIL-STD-883: 微电子器件试验方法标准
GJB 548B: 微电子器件试验方法和程序
GB/T 2423.1/2: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 / 试验B:高温


该设备是进行元器件耐温验证的专用工具,通过模拟高低温环境及快速温度变化,精准考核元器件的可靠性。其验证内容包括:
高温耐受性: 检验元器件在工作温度(如125℃、150℃)下长期运行的电性能稳定性与结构完整性,防止材料软化、老化或参数漂移。
低温工作特性: 测试元器件在低温(如-40℃、-55℃)下能否正常启动和工作,评估其耐寒能力。
精准高效: 快速温变与精确控温相结合,极大提高了测试效率和准确性。
空间节约: 小型化设计,为实验室节省宝贵空间。
操作简便: 人性化界面,易于编程和监控,降低操作门槛。
稳定耐用: 核心部件选用国际品牌,确保设备在频繁的快速温变中长期稳定运行。
数据可溯: 完整的测试数据记录功能,为质量分析和报告提供有力依据。
合理装载: 测试元器件应均匀放置在箱内,不可堆积或堵塞风道,总体积不超过工作室的1/3,以确保温度均匀。
引线规范: 若需带电测试,应使用耐高低温的导线,并通过专用测试孔引出,注意密封以防影响箱内温度。
定期维护: 定期清洁冷凝器滤网,检查压缩机运行状态,确保制冷性能。
安全操作: 设备运行时箱体表面高温,请勿触摸。测试结束后,需待温度接近环境温度后再开门取件,以防烫伤或冷凝结露。
电源接地: 必须确保设备可靠接地,并使用稳定的专用电源。