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快温变小型高低温试验箱电子元件耐候测试
简要描述：

可模拟电子元件在运输、存储、使用过程中面临的温湿度变化，为芯片、传感器、电容等元件的可靠性验证提供核心支持，广泛应用于电子研发、质检及批量抽检环节。快温变小型高低温试验箱电子元件耐候测试

型号：TEB-408PF

浏览量：363

更新时间：2025-09-12

价格：32000

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快温变小型高低温试验箱电子元件耐候测试
品牌广皓天产地国产
温度波动范围士0,3'C(-20~+100'C)±0.5*C(+100.1~+150*C)+2.5%RH外壳材料防锈处理冷轧钢板士2688粉体涂装或SUS304不锈钢
内体材料不锈钢板(SUS304CP种，2B抛光处理)绝缘材料硬质聚氨酯泡沫塑料(箱体用)玻璃棉(箱门用)

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

快温变小型高低温试验箱电子元件耐候测试

产品详情与核心用途

设备采用一体化紧凑型设计，占地面积仅 0.8-1.2㎡，工作室容积 10-50L，适配小批量电子元件测试；外壳为冷轧钢板喷塑，内胆用 SUS304 不锈钢，兼具耐用性与易清洁性。核心用途包括：一是电子元件高低温循环测试，模拟昼夜温差或地域温度变化，验证元件参数稳定性；二是快温变冲击测试，通过快速升温 / 降温（温变速率可达 10-20℃/min），检测元件抗温度冲击能力，如芯片焊点是否开裂；三是温湿度组合测试，搭配加湿系统模拟高湿高温环境，评估元件抗潮湿腐蚀性能，如电容漏电流变化。

快温变小型高低温试验箱电子元件耐候测试


快温变小型高低温试验箱电子元件耐候测试

关键技术参数

  1. 温度范围：-60℃~150℃，满足绝大多数电子元件耐候测试需求；

  1. 温变速率：5-20℃/min（可调节，空载）， 20 分钟实现 - 40℃~120℃切换；

  1. 温度精度：波动度≤±0.5℃，均匀度≤±2℃；

  1. 湿度范围：20% RH~98% RH（温度≥10℃时），波动度≤±3% RH；

  1. 运行方式：支持程序控制，可存储 50 组测试程序，每组含 30 段温湿度阶梯。

快温变小型高低温试验箱电子元件耐候测试


核心系统与工作原理
温度控制系统

采用 “PID 闭环控制 + 双传感器" 设计：进口铂电阻传感器实时采集工作室温度，PID 控制器根据温差动态调节镍铬合金加热管与制冷系统功率；配备快速温变模块，通过加大加热 / 制冷负荷，实现高速率温变，同时避免温度超调。


快温变小型高低温试验箱电子元件耐候测试




制冷系统

采用单级 / 双级压缩制冷（-60℃以下用双级），搭配 R404A 环保制冷剂；进口压缩机提供稳定冷量，高效翅片冷凝器与轴流风机加速散热；蒸发器采用无霜设计，配合智能除霜程序，确保低温工况下制冷效率。


加湿系统

采用超声波加湿方式，雾化量可调（0-300ml/h）；配备水位传感器与自动补水装置，避免干烧；加湿蒸汽经滤网过滤，防止杂质进入工作室，保障电子元件不受污染。






工作原理
设备通过温度、制冷、加湿系统协同工作：升温时，加热管启动，风机循环空气使温度均匀；降温时，制冷系统运行，快速降低工作室温度；加湿时，超声波发生器产生水雾，与循环空气混合调节湿度。同时，控制系统根据预设程序，自动切换温湿度参数，模拟不同环境条件，实时监测并记录数据，为电子元件耐候性评估提供依据。




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