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大型高低温试验设备芯片封装
简要描述:

同时,电磁屏蔽模块抑制外界干扰,传感器实时采集芯片封装焊点温度与环境温度,动态调整输出,确保测试环境稳定。大型高低温试验设备芯片封装

型号:THC-225PF

浏览量:394

更新时间:2025-09-06

价格:65800

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大型高低温试验设备芯片封装
品牌广皓天产地国产
是否防爆常规型温度范围常规型
制冷方式压缩机制冷温度范围-70℃~150℃
湿度范围10%~98%RH外壳材料SUS304不锈钢

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

大型高低温试验设备芯片封装

工作原理

基于 “精准控温 + 抗干扰环境模拟" 设计,温度控制系统根据芯片封装测试曲线(如 - 55℃~125℃温变循环),指令复叠式制冷系统与分布式加热模块协同工作:制冷时双回路压缩机压缩环保制冷剂,通过微通道蒸发器快速降温;加热时采用薄膜加热片均匀升温,配合双侧均流风道形成气流循环。

大型高低温试验设备芯片封装


大型高低温试验设备芯片封装

产品优势

  1. 电磁屏蔽等级达 EMC Class B,避免干扰芯片封装电性能测试,数据准确性提升 40%;

  1. 温度均匀度≤±0.5℃,精准控制芯片封装各焊点温差,保障可靠性测试结果;

  1. 快速温变能力(-40℃~85℃仅需 35 分钟),缩短芯片封装循环测试周期 30%;

  1. 内箱采用防静电材质,防止静电损伤芯片封装,测试良率提高 25%;

  1. 支持与芯片测试系统(ATE)联动,实现温变与电性能测试同步,自动化程度高。

  2. 大型高低温试验设备芯片封装

用途
专为芯片封装测试设计,可开展:芯片封装高低温循环可靠性测试(验证焊点疲劳寿命);温度下封装密封性测试(防止水汽侵入);高温老化测试(评估封装材料稳定性);低温启动性能测试(模拟寒冷地区使用场景),满足 JEDEC JESD22-A104、IPC-9701 等芯片封装行业标准,适配 CPU、GPU、功率芯片等各类封装形式测试。
技术参数

温度范围 - 60℃~150℃;温度波动度≤±0.2℃,均匀度≤±0.5℃;升温速率 6℃/min(-40℃~85℃),降温速率 4℃/min(85℃~-40℃);工作室容积 300L~1500L;电磁屏蔽等级 EMC Class B;防静电等级≤10^6Ω;电源 380V/50Hz,功率 12kW~60kW;数据采样频率 100Hz,支持与 ATE 系统同步。







温度控制系统

采用 PLC + 模糊 PID 双闭环控制,搭配 4 组高精度 PT100 传感器(风道、芯片表面、工作室上下区),实时补偿温度偏差;支持 150 段程序编辑,可模拟 “-55℃(2h)→升温至 25℃(1h)→125℃(2h)" 等芯片封装测试曲线;内置超温保护回路,芯片温度超阈值时 1 秒内切断加热,保障测试安全。


产品特点
  1. 内箱防静电涂层 + 接地设计,适配芯片封装静电敏感需求;

  1. 配备芯片供电接口(3.3V/5V/12V 可选),支持测试中持续供电;

  1. 观察窗采用防电磁干扰玻璃,便于监测试样且不影响测试环境;

  1. 模块化结构,可扩展湿度控制功能,满足芯片封装温湿度复合测试;

  1. 支持远程监控与数据导出,适配芯片测试自动化流程管理。




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