快速温变高低温测试箱半导体评估芯片在航空航天温变下的工作稳定性，为半导体研发优化、量产质量把控及失效分析提供关键数据支撑，保障半导体器件在复杂温变场景下的性能与寿命。

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

快速温变高低温测试箱半导体

用途

快速温变高低温测试箱半导体

技术参数

采用双 PLC 冗余控制，搭配 10 路高精度 PT1000 铂电阻传感器（均匀分布于工作室及半导体测试治具附近），通过 PID + 模糊自适应算法调节高频合金加热管与制冷模块。针对半导体对温度敏感的特性，设置 “精准温变模式"（控温精度 ±0.3℃）与 “快速冲击模式"（30℃/min 温变速率），可预设 200 段温变程序，支持与半导体测试系统联动，实时采集半导体电气参数（如电压、电流、电阻），当温度偏离设定值 ±0.5℃时，自动触发声光报警并切断半导体供电，避免器件损坏。

设备启动后，根据半导体测试需求设定温变速率、目标温度区间及测试周期；温度控制系统驱动加热管或制冷系统，按设定速率调节工作室温度，传感器实时采集温度数据并反馈至控制模块，动态修正加热、制冷功率，确保温度精准跟随预设曲线；同时，通过专用接口连接半导体测试治具，为半导体器件提供稳定供电，搭配示波器、万用表等设备同步采集其电气性能数据；测试过程中，若出现温度波动超差或半导体性能异常，设备自动记录异常时间点与参数；测试结束后，生成温变曲线与半导体性能变化报告，支持数据导出至半导体失效分析软件。