快温变高低温实验箱以 ±0.5℃控温精度为核心优势，精准匹配电子元件（芯片、PCB 板、传感器等）对温度敏感的测试需求，从硬件到系统保障测试数据可靠快温变高低温实验箱 ±0.5℃适配电子测试

控温精度：±0.5℃（恒定温工况，电子测试核心指标）；

温变速率：5-30℃/min（线性可调，适配芯片温循测试）；

温度均匀性：±1.2℃（工作室任意点，避免局部温差影响元件性能）；

工作室尺寸：200-1500L（适配多规格电子样品，如模组 / 单板）；

电源：380V/50Hz（三相五线，满足电子测试稳定供电需求）。

工作室：SUS304 镜面不锈钢（无杂质释放，避免污染电子元件）；

保温层：100mm 高密度聚氨酯 + 岩棉（阻温损，维持 ±0.5℃精度）；

循环系统：离心风机 + 螺旋导流风道（均匀送风，无局部温差）；

样品架：绝缘耐高温材质（避免金属导电干扰电子测试）。

控制核心：西门子 PLC（响应≤0.8s，实时修正温度偏差）；

测温元件：4 个 A 级 PT100 传感器（均匀布于工作室，精准反馈温度）；

调节逻辑：根据电子测试程序（如 - 40℃→85℃循环），自动平衡加热 / 制冷功率，避免超调；

保护功能：超温（±2℃）报警、传感器故障自检（防数据失真）。

压缩机：丹佛斯品牌（低噪音，适配电子测试需求）；

制冷剂：R404A 环保型（快速降温，-70℃低温稳定运行）；

冷凝器：高效翅片式（配合变频风扇，保障制冷效率，支撑精度）。

国标：GB/T 2423.1（电子低温测试）、GB/T 2423.2（电子高温测试）；

国际标准：IEC 60068-2-1（电子元件环境测试）、UL 1581（电线电缆温变测试）。

高精度：±0.5℃控温，贴合电子元件测试需求；

低干扰：工作室无杂质、无电磁干扰（适配敏感元件）；

数据准：支持 USB 导出测试曲线，便于电子测试数据分析；

启停稳：温变启动无冲击，避免元件瞬时损坏。

测试前：设备预热 30 分钟，待温度稳定至 ±0.1℃再放样品；

样品摆放：避免遮挡风道（防局部温差超 ±0.5℃）；

定期维护：每 3 个月校准 PT100 传感器（保障精度）；

环境要求：设备周围温度 15-30℃（防环境温影响控温精度）。