产品简介

显卡芯片高低温冷热冲击试验箱
是一款用于测试材料、零部件及电子产品等在快速温度变化环境下耐受能力的专业设备。它通过在短时间内实现高温与低温之间的急剧切换，模拟各种温度冲击工况，从而评估被测对象的物理和化学性能变化、结构稳定性以及可靠性，广泛应用于航空航天、汽车制造、电子电器、科研院校等众多领域。

显卡芯片高低温冷热冲击试验箱

控制系统

• 控制方式：多采用微电脑全自动 PID+SSR 控制方式，能够精确控制温度和时间，确保测试的准确性和可靠性。PID 自动演算控制可根据实际温度与设定温度的偏差自动调整加热或制冷功率，使温度快速稳定在设定值附近.

• 操作界面：配备大型液晶显示屏，如 LCD（320×240）等，采用英文文字与数据显示交谈方式，操作直观简便。可记忆多组程序和段数，方便用户进行不同条件下的试验设置和切换.

• 功能特点：具有预约开机时间、关机时间设定功能，可按年、月、日、时、分来设定；还具备运转保养累积时间显示功能，可供机台运转时间及保养参考。此外，部分试验箱还有程序执行中的暂停、跳段及从事其它程序设定等功能，以及恢复时间与测试时间 WAIT 功能等，操作灵活性高.

显卡芯片高低温冷热冲击试验箱

技术参数：
1、温度范围：
高温区：+60 ℃ ～ 200 ℃
低温区：A/-10 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-60 ℃ , C/-10 ℃～-70 ℃
工作室：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃
2、温度波动度: ±0.5℃
3、温度均匀度：±3℃
4、温度恢复时间:3~5min
5、高温槽升温速度:平均约5℃/min
6、低温槽降温速度:平均约1.5℃/min
7、高低温暴露时间:30min以上
8、高低温转换时间：≤15秒

安全保护系统

• 超温保护：当箱内温度超过设定的安全温度上，自动切断加热电源，防止因高温对设备和样品造成损坏，避免安全事故发生.

• 过流保护：监测电路中的电流，一旦电流超过设定值，立即切断电源，防止因短路或过载等情况损坏电气元件，保护试验箱的电气系统安全.

• 漏电保护：检测试验箱是否漏电，若发现漏电现象，迅速切断电源，保障操作人员的人身安全.

• 压缩机保护：包括压缩机过负载保护装置、高低压保护开关等，确保压缩机在正常的工作压力和负载范围内运行，延长压缩机使用寿命，防止因压缩机故障影响试验箱的正常工作.

• 其它保护：还设有欠相保护开关、故障指示灯、紧急停止开关等，当出现异常故障时，可及时显示故障状态并切断电源，方便操作人员进行故障排查和处理，确保试验过程的安全性.