显卡芯片两箱冷热冲击试验箱
是一款用于测试材料、零部件及电子产品等在快速温度变化环境下耐受能力的专业设备。它通过在短时间内实现高温与低温之间的急剧切换，模拟各种温度冲击工况，从而评估被测对象的物理和化学性能变化、结构稳定性以及可靠性，广泛应用于航空航天、汽车制造、电子电器、科研院校等众多领域。

显卡芯片两箱冷热冲击试验箱

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%

显卡芯片两箱冷热冲击试验箱

制冷系统：
1.设备的制冷系统安装在底部，压缩机采用法国进口泰康牌，以确保制冷效果及可靠性。
2.冷凝方式：强制风冷冷却。
3.制冷方式：双机制冷。
4.制冷剂：R404A、R23（环保型）。
5.系统管路均作通气加压48H捡漏测试。
6.内螺旋式冷媒铜管，斜率式蒸发器。
7.除湿采用蒸发器盘管露点温度层流接触除湿方式。

结构特证

1.机箱材质

a.外箱材质:冷扎钢板静电喷塑。

b.内箱材质:镜面不锈钢板。

c.保温材质:高密度PU硬质发泡。

d.外箱底座:角铁槽钢特殊防锈处理之电解板喷塑。

2.试验机箱门:单片门×1套,左开,把手在右手边。

a）材 质:不锈钢（SUS#304）。

b）把 手:不锈钢把手。

c）后 钮:SUS#304。

d）窗 口:340×450×20（mm）三层真空玻璃层。

e）测 试 孔:机体左侧50mm孔1只,附不锈钢孔盖1只,硅胶塞头1只。

3.送风循环系统:a.马达:AC220V 60W1台或多台加长轴心。

b.风扇多翼式扇叶（SIROCCOFAN）。