| 品牌 | 广皓天 | 产地 | 国产 |
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| 升温时间 | 士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士 | 温度波动范围 | 士0,3'C(-20~+100'C)±0.5*C(+100.1~+150*C)+2.5%RH |
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| 温度范围 | -70°C~+150°C | 外形尺寸 | 115x185x218 |
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| 制冷方式 | 机械式双级压缩制冷方式(气冷冷凝器或水冷换热器) | | |
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生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。
快温变高低温实验箱，半导体芯片应力测试
一、半导体芯片应力测试用途
该设备专为半导体芯片、芯片封装、IC模块、晶圆等产品的温度应力测试设计，通过模拟快速温变、高低温环境，施加温度应力，验证芯片在高低温循环、剧烈温变过程中的机械稳定性、电气性能可靠性，提前暴露芯片封装开裂、焊点脱落、芯片失效、性能漂移等隐患，适配芯片研发、生产、质检全流程，满足半导体行业相关测试标准，为芯片质量管控提供核心数据支撑。
快温变高低温实验箱，半导体芯片应力测试
二、技术参数
温度范围：-70℃～+150℃（可定制-80℃～+200℃，适配高功率芯片测试）；温变速率：5℃/min、10℃/min、15℃/min线性可调（空载），负载状态下稳定保持≥5℃/min；温度均匀度：≤±2℃（芯片测试区域精准控温）；温度波动度：≤±0.5℃；内箱容积：50L～408L（可定制小型专用腔体，适配芯片小批量测试）；升温时间：常温→+150℃约25min，降温时间：常温→-70℃约50min；电源：AC380V 3P 50Hz；安全标准：符合GB/T 2423.1/2/22、JEDEC半导体测试标准；控制精度：温度分辨率0.01℃，程序控制误差≤±0.3℃。
三、产品结构
1. 箱体结构：外壳采用冷轧钢板静电喷塑，耐腐蚀、抗干扰；内胆为SUS304不锈钢，光滑易清洁，无杂质污染，适配芯片洁净测试需求；高密度聚氨酯保温层，有效锁温，减少能耗，避免箱内温度波动。2. 测试腔体：定制小型测试托盘，可固定芯片、晶圆，防止测试过程中位移；预留标准测试接口，方便连接芯片测试仪器，实现温变与电气性能同步检测。3. 送风系统：顶部强对流循环风道，搭配低噪音风机，确保箱内温场均匀，无局部温差，避免芯片局部应力不均。4. 安全结构：独立电气控制柜，布线规范，防电磁干扰（适配芯片精密测试）；配备门开报警、超温保护、漏电保护、压缩机过载保护，保障设备与芯片安全。5. 操作结构：嵌入式7英寸触摸屏，操作面板简洁，可快速设置测试参数，适配实验室高效测试需求。
四、温度控制系统
采用工业级高精度温度控制器，中文操作界面，简单易上手；支持程序控制与定值控制双模式，可编辑120组测试程序，每组99段温变曲线，支持循环测试、阶梯温变，适配芯片不同应力测试场景；搭载PT100铂金电阻传感器，采样响应迅速，精准捕捉温度变化，反馈具备PID智能调节算法，自动匹配加热、制冷功率，实现快速温变与精准控温，避免温度过冲损伤芯片；支持数据实时显示、存储、USB导出，可追溯测试全过程数据，满足芯片测试溯源要求；内置超温、传感器故障报警功能，及时止损，保护芯片与设备。
五、制冷系统
采用二元复叠式制冷系统，搭配品牌压缩机，制冷强劲、运行稳定，噪音低，适配实验室安静环境；使用环保制冷剂（R404A+R23），无环境污染，且降温速率稳定，可快速达到深低温环境，满足芯片低温应力测试需求；核心部件（冷凝器、干燥过滤器、电子膨胀阀）均采用优质品牌产品，抗老化、故障率低，延长设备使用寿命；具备压缩机延时启动、高低压保护、过热保护功能，避免制冷系统损坏；支持风冷/水冷两种散热方式，可根据实验室安装环境灵活选择，确保制冷系统长期稳定运行。 六、应用领域
核心应用于半导体行业，涵盖：半导体芯片（逻辑芯片、功率芯片、存储芯片）、芯片封装件、IC模块、晶圆、半导体传感器、车载芯片、工业芯片等产品的温度应力测试；同时适配科研机构、半导体研发企业、芯片生产厂家、第三方检测机构，用于芯片研发阶段的性能验证、生产过程的质量管控、出厂前的合格检测，以及芯片可靠性老化测试，助力企业提升芯片产品质量与稳定性。
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