硬盘芯片-60℃~+150℃ 冷热冲击试验箱
用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料瞬间耐热耐寒。耐干、耐湿性能。适合于科研机构，塑胶制品、电子产品、包装材料、车载摄像头、化妆品、电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

硬盘芯片-60℃~+150℃ 冷热冲击试验箱

用途：

冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业***的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

硬盘芯片-60℃~+150℃ 冷热冲击试验箱

控制系统：

主控制器采用进口日本"OYO"双回路***液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏，可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态，PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式，仅需设定温度，就可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警，配置485通讯接口及运行软件。设定精度:温度:0.1℃ 时间:Is用户程序容量:10×99段。运行方式:程序运行，恒定运行。独立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。 温度恢复时间小于等于5

技术参数

1.温度范围：-40℃～150℃(D)

2.湿度范围：30%～98%R.H（温度在25℃～95℃）

3.温度均匀度：≤±2℃  （空载时）

4.湿度均匀度：+2%  -3%R.H

5.温度波动度：≤±0.5℃ （空载时）

6.湿度波动度：±2%

7.温度偏差：≤±2℃

8.湿度偏差：≤±2%

9.降温速率：0.7～1.0℃/min

10.升温速率：1.0～3.0℃/min

11.时间设定范围：0～999 小时

12.电源电压：380V±10%

13.设备总功率：3KW～15KW

性能

温度范围：-20℃～+150℃-40℃～+150℃-60℃～+150℃-70℃～+150℃

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：≤ ±2.0℃

升温时间：-20→+150℃≤ 35分钟（约3℃/min）

降温时间：+20→-20℃≤45分钟（约1.2℃/min）