快速温变高低温测试箱在车规芯片老化测试中扮演着至关重要的角色，其目的是在实验室环境中加速模拟芯片在整个生命周期内可能经历的温度应力。快速温变高低温箱，车规芯片高温老化

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快速温变高低温箱，车规芯片高温老化

制冷系统

强大的制冷系统是实现快速降温和高低温循环的基础，尤其对于高温测试后需要快速降至低温的环节。

• 复叠式制冷技术： 为满足车规测试的宽温区（如-40℃至+150℃）和快速降温要求，普遍采用由两级压缩机组成的复叠式制冷系统，确保在高温段也能拥有强大的制冷能力。

• 高效节能设计： 采用热气旁通阀等节能技术，在高温老化保温阶段，智能调节系统负载，避免压缩机频繁启停，既节能又延长核心部件寿命。

• 稳定可靠的压缩机： 核心压缩机选用国际品牌（如Copeland、Bitzer），确保在长期高强度运行下的稳定性和可靠性。

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加湿系统

虽然纯高温老化测试可能不需加湿，但集成加湿系统使设备能执行更全面的温湿度复合测试。

• 应对复杂测试场景： 车规芯片也需要通过如THB（高温高湿反偏）等测试来验证其抗潮湿腐蚀能力。加湿系统可精确控制湿度，模拟雨天、高湿环境。

• 高精度控制： 采用浅槽式或锅炉式蒸汽加湿，配合PID控制，能快速、精确地实现设定的湿度范围（如20%~98%RH），满足相关测试标准。

产品性能

针对车规芯片测试，设备性能有特定要求。

• 高温性能： 高温上限通常要求达到+150℃甚至更高，以满足高级别车规芯片的测试需求。

• 快速的温度转换率： 高效的制冷与加热系统协同工作，可实现每分钟5℃至15℃甚至更快的线性温变速率，大幅提高测试效率。

• 温度均匀性： 在高温条件下，工作室内各点的温度均匀性需严格控制在±2.0℃以内，确保每颗被测芯片都处于相同的应力环境下。

• 长期运行稳定性： 设备必须能够支持长达1000小时以上的不间断连续老化测试，运行。

满足标准

设备的设计与测试流程严格遵循车规及电子行业核心标准。

• 车规芯片核心标准： AEC-Q100（集成电路应力测试认证）。

• 环境试验方法标准： IEC 60068-2-1/.2/.14（低温、高温、温度变化），GB/T 2423.1/.2（中国国家标准）。

• 汽车电子系统标准： ISO 16750（道路车辆-电气和电子设备的环境条件和测试）。

产品优势

• 测试效率倍增： 快速温变能力大幅缩短测试周期，加快产品上市速度。

• 数据精准可靠： 高精度的控制系统确保测试条件的一致性，生成的数据真实可信，为质量判断提供坚实依据。

• 一机多用，集成化高： 一台设备可完成高温老化、快速温变、温度循环、恒温恒湿等多种测试，节省投资和实验室空间。

• 超高可靠性： 专为长期、严苛的工业环境设计，确保老化测试项目能够顺利完成。

应用领域

• 核心应用： 车规级MCU（微控制器）、SoC（系统级芯片）、功率半导体（IGBT、SiC MOSFET）、传感器、电源管理芯片（PMIC）的可靠性验证与老化筛选。

• 延伸应用： 同样适用于其他汽车电子部件，如ECU（发动机控制单元）、BMS（电池管理系统）等模块级产品的环境应力筛选。

注意事项

• 负载规划： 老化测试时，芯片自身会发热（负载发热）。必须精确计算总发热量，确保其在设备制冷/加热能力的允许范围内，否则会严重影响测试结果。

• 科学摆放： 老化板（Load Board）的设计与芯片在工作室内的摆放必须保证气流畅通，避免阻挡风道，导致局部过热。

• 定期维护： 由于老化测试时间长、强度大，必须严格执行定期维护计划，包括清洁冷凝器、检查制冷剂压力、更换加湿用水等，以防意外中断。

• 安全操作： 测试结束后，需等待箱内温度降至安全范围后再开门，防止高温烫伤和因急速冷却对芯片或设备造成损伤。