传感器高低温冲击试验箱
工作原理
两箱式结构
由高温箱与低温箱组成,通过电动提篮或滑轨装置,在 10-15 秒内将传感器样品在两箱间快速转移。不同材料的传感器部件因热膨胀系数差异,在温度骤变时产生内部应力,暴露焊点松动、芯片位移等潜在缺陷。例如,将温湿度传感器从 85℃高温箱转移至 - 20℃低温箱,可观察其探头材料是否因收缩率不同而出现裂缝。

三箱式结构
设有高温箱、低温箱和测试箱,传感器样品置于测试箱保持静止。设备通过风门切换,将高温或低温气流快速导入测试箱,实现温度冲击。此方式避免样品移动带来的振动干扰,适合 MEMS(微机电系统)传感器等精密器件测试,确保测试结果仅受温度变化影响。
传感器高低温冲击试验箱
气流冲击原理
利用特制气流罩形成密闭测试腔,直接向传感器表面喷射高温或低温气流。通过调节气流温度、流量与冲击时间,实现局部快速温变。该方法可针对传感器敏感元件进行精准测试,如单独测试红外传感器的感应芯片,不影响周边电路组件。
结构设计
外箱材质
采用优质冷轧钢板,表面经静电喷塑处理,具备耐腐蚀、抗磨损特性,适应实验室复杂环境,延长设备使用寿命。



内箱材质
选用 SUS304 不锈钢板,耐高低温、抗腐蚀且易清洁,避免内箱材质对传感器测试产生污染,确保测试环境纯净。
箱体结构
两箱式结构紧凑,适用于常规传感器测试;三箱式增加独立测试箱,配合双层耐高温密封条,有效防止冷热泄漏,保障箱内温度均匀性,满足高精度传感器测试需求。五、控制系统
安全防护
应用领域
工业自动化
测试用于生产线监控的压力、流量、振动传感器,确保其在高温车间或低温仓储环境中稳定传输数据,避免生产事故。