适配电子元件、电阻、半导体芯片等产品的耐候性测试，为研发迭代与生产质检节省时间成本。快温变小型高低温试验箱高效控温缩短试验

电子元件测试：快速完成电容、电阻的高低温循环测试，1 天可替代传统设备 3 天的测试量；

半导体芯片验证：模拟 - 55℃~125℃温变，缩短芯片耐温极限测试周期，助力研发快速迭代；

生产批量抽检：高效控温支持 1 小时内完成 1 批次样品测试，满足车间高频次质检需求。

温度范围：-70℃~150℃，温变速率 5~20℃/min（可调）；

控温精度：±0.5℃，温度均匀度≤±1.5℃；

试验效率：从 - 40℃升至 125℃仅需 8 分钟，单次高低温循环测试时间较普通设备缩短 40%；

工作室容积：15L~30L，供电 220V±10% 50Hz，连续运行能力≥1000h。

稳定性：连续 100 次高低温循环测试，温变速率波动≤±1℃/min，无性能衰减；

环境适配：在 35℃室温下，仍能稳定维持 - 55℃低温，控温不受外界环境干扰；

兼容性：适配不同规格样品，同时测试多组样品时，控温精度不受影响。

缩短周期：高效控温使整体试验时间平均缩短 50%，助力产品快速上市；

精度不妥协：极速温变下仍保持高精度控温，测试数据可靠，无需二次验证；

成本优化：缩短试验时间的同时降低能耗，年均电费节省 25%。

智能程序：支持 100 组自定义试验程序，可预设多段温变曲线，自动执行测试；

数据追踪：实时记录温变曲线与测试时长，数据导出便捷，便于效率分析；

异常预警：温变速率异常时自动报警并调整参数，避免试验中断，保障效率；

批量测试：工作室合理布局，支持多组样品同步测试，进一步提升试验效率。

极速温变响应：采用双级变频压缩机制冷与高频石英加热管，温变速率达 20℃/min，较普通设备提升 50%，快速实现高低温切换；

精准控温逻辑：双 PID 闭环控制 + 三点测温技术，温度波动≤±0.3℃，避免因温度偏差导致的测试返工；

节能控温设计：变频风机与动态功率调节技术，高温段与低温段自动适配功率，控温效率提升 30%，减少无效能耗。