广皓天与中科院共建 “芯片环境测试中心”大型高低温试验设备成核心验证

近日，广皓天与中国某研究所正式达成战略合作，联合共建 “芯片环境测试中心”。该中心聚焦车规级、工业级芯片的环境可靠性验证，其中广皓天自主研发的大型高低温试验设备凭借精准控温能力与稳定性能，成为芯片温度测试环节的核心验证设备，为我国芯片自主研发提供关键测试支撑。

相较于传统测试设备，广皓天为该中心定制的大型高低温试验设备具备三大核心优势：一是控温精度达 ±0.5℃，可模拟高海拔、极寒地区等复杂环境下的温度波动，精准捕捉芯片参数变化；二是设备腔体容积达 500L，支持多批次芯片同步测试，且配备多通道数据采集系统，能实时记录不同温度段下芯片的电流、电压、信号传输等关键数据；三是搭载抗电磁干扰模块，避免测试过程中外部信号对芯片性能数据的干扰，确保验证结果的准确性。

“在车规级芯片低温可靠性测试中，广皓天的大型高低温试验设备表现尤为突出。” 中科院该研究所项目负责人介绍，“我们曾通过该设备对某款车规 MCU 芯片进行 - 40℃至 125℃的循环冲击测试，设备连续运行 3000 小时，精准输出芯片在温度骤变下的稳定性数据，为芯片设计优化提供了重要依据。” 目前，该中心已通过大型高低温试验设备完成 12 款国芯片的环境可靠性验证，其中 3 款芯片成功通过车规认证，进入车企供应链。