广皓天试验箱入驻国家半导体检测中心，保障芯片耐温冲击性能验证

近日，广皓天温度冲击试验箱成功入驻国家半导体检测中心，这一合作将极大提升芯片耐温冲击性能验证水平，为我国半导体产业发展注入强劲动力。

国家半导体检测中心作为国内半导体检测机构，一直致力于为半导体行业提供高质量的检测服务，推动产业技术升级。随着半导体芯片在各类复杂环境中的应用日益广泛，对其在温度条件下的可靠性要求愈发严苛。芯片在实际使用中，可能面临从高温工作状态迅速切换到低温环境，或反之的情况，如手机在炎热户外使用后进入空调房，车载芯片在发动机高温运转与低温启动时的状态变化等。因此，精准模拟这类温度冲击场景，对评估芯片性能稳定性极为关键。

在国家半导体检测中心，广皓天试验箱已迅速投入到紧张的芯片测试工作中。以一款新型 5G 通信芯片测试为例，在经历 1000 次 - 40℃至 85℃的温度冲击循环后，试验箱精准捕捉到芯片内部焊点因热胀冷缩出现的细微裂纹，以及晶体管在高温下漏电率上升的问题。基于这些精确数据，芯片研发团队得以针对性地优化芯片封装工艺与电路设计，改进后的芯片在再次测试中，性能稳定性大幅提升，为产品推向市场筑牢了质量根基。