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快温变高低温实验箱的检测数据是产品研发、量产质检的核心依据,温场均匀度失衡会使样品不同部位处于差异化温度环境,造成检测结果偏离真实性能。例如,在电子元器件检测中,若箱内局部温度比设定值高 5℃,处于该区域的芯片可能提前触发高温保护,误判为 “高温耐受性不达标";而处于低温区域的同批次芯片,又可能因低温应力不足,掩盖其低温下的性能缺陷。这种 “同样不同测" 的情况,会让企业误将合格产品判定为不合格,或让存在隐患的产品流入市场,严重影响质量管控效率。
快温变高低温实验箱的快速温变循环本就对样品材料性能有严苛考验,温场均匀度超范围会进一步加剧样品局部的应力损伤。以汽车动力电池为例,若箱内温度分布不均,电池模组某区域长期处于高于设定值的环境中,该区域的电芯会出现电解液分解速度加快、电极材料老化加速的问题,而其他区域电芯性能正常。这种局部老化差异会导致整个电池模组充放电循环寿命大幅缩短,实际装车后可能出现续航衰减快、局部过热等故障,与快温变实验箱 “模拟真实使用环境、验证产品寿命" 的初衷相悖。
对于航空航天、医疗设备等对环境适应性要求领域,快温变高低温实验箱温场均匀度超范围可能直接导致样品功能失效,甚至引发安全事故。例如,航空电子设备中的线路板在快温变实验中,若局部温度过低,会使线路板上的焊点出现冷裂纹,而其他区域温度正常 —— 实验中未发现的隐患,在高空低温环境下可能突然爆发,导致设备信号中断;又如医疗监护仪的传感器,若在实验中因局部高温提前老化,会导致其在实际使用中出现数据漂移,影响患者生命体征监测的准确性。这些问题的根源,均是快温变高低温实验箱温场均匀度失控,未能真实模拟统一的环境。