广皓天高低温老化试验箱挑战半导体温差循环测试

高精度控温能力：采用广皓天自主研发的双 PID 控温算法，结合进口铂电阻传感器，温度控制精度达 ±0.5℃，温场均匀度 ±1℃，较行业常规设备精度提升 20%，避免因温场不均导致的老化测试偏差；

高效温变响应：升温速率可达 10℃/min、降温速率 8℃/min，从常温降至 - 40℃仅需 30 分钟，快速实现目标温区切换，缩短老化测试周期，提升企业测试效率；

稳定耐用设计：内胆采用 304 不锈钢一体成型，耐腐蚀且无焊接缝隙，避免冷凝水渗漏；箱门配备双层中空钢化玻璃与加热除雾功能，低温测试时无起雾现象，便于实时观察样品状态，设备整体使用寿命≥8 年；