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手机壳小型折弯试验箱
简要描述:

手机壳小型折弯试验箱
为精准测试 OLED 屏幕折弯性能设计。结构紧凑,操作便捷,能够模拟各种复杂的折弯场景。用测控技术,确保测试数据的精确与可靠。支持定制,可根据您的特殊需求,调整折弯角度、力度、频率等参数。无论是研发新品,还是质量检测,都能满足您的要求。帮助您深入了解 OLED 屏幕的柔韧性和耐用性。

型号:ht-180wz

浏览量:81

更新时间:2025-01-16

价格:23000

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手机壳小型折弯试验箱
品牌广皓天产地国产

手机壳小型折弯试验箱

结构设计


  • 机身材质:机身通常采用优质金属材料,如铝合金或不锈钢等,经过电镀、静电烤漆等表面处理工艺,具有良好的耐腐蚀性和美观度,同时保证机身的坚固性和稳定性,确保在测试过程中不会因震动或外力影响而导致测试结果不准确。

  • 夹具设计:上方采用螺丝固定,下方采用快速夹具固定,方便手机壳的安装和拆卸,且能确保在测试过程中手机壳固定牢固,避免因松动而影响测试效果,部分夹具还可根据不同手机壳的尺寸和形状进行调整。

  • 观察窗口:一些试验箱配备有观察窗口,采用透明材料制成,如高强度玻璃或亚克力板,方便操作人员在测试过程中直接观察手机壳的弯折情况,及时发现异常现象。

手机壳小型折弯试验箱

适用范围


主要用于各种手机壳材质的折弯、弯曲测试,包括塑料、橡胶、硅胶、金属、复合材料等制成的手机壳,评估其在不同条件下的龟裂、坚韧、稳定、耐用性以及美观效果,以确保手机壳在实际使用过程中能够承受一定程度的弯折而不损坏,满足用户的使用需求。

手机壳小型折弯试验箱


技术参数:

1.温度范围:+20℃~ 0℃ / -10℃ / -20℃ / -30℃ / -40℃ /-50℃ / -60℃ / -70℃ / -85℃。
2.控制稳定度:±0.5℃。
3.分布均匀度:±1.5℃。
4.温度偏差:≤±2℃。
5.正常升温时间:+20℃ ~ +150℃小于45分钟非线性空载。
6.正常降温时间:+20 ~-85℃小于100分钟,+20~-70℃小于80分钟,+20~-60℃小于70分钟,+20~-50℃小于65分钟,+20~-40℃小于60分钟,+20~-20℃小于45分钟非线性空载。
7.试验速率:10 ~ 60次/分可调。
8.弯曲角度:10°~ 180°可调。
9.试验工位:每次同时进行2组。
10.弯曲次数:0 ~ 999999可预置。

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