产品列表 / products

首页 > 产品中心 > >HAST加速老化试验箱 > 非饱和加速老化试验箱,电子元件老化测试
非饱和加速老化试验箱,电子元件老化测试
简要描述:

专为电阻、电容、芯片、PCB/PCBA、传感器、半导体器件等电子元件设计,可模拟高温高湿非饱和环境,施加温湿度及电压复合应力,加速老化进程非饱和加速老化试验箱,电子元件老化测试

型号:

浏览量:758

更新时间:2026-01-06

价格:45200

在线留言
非饱和加速老化试验箱,电子元件老化测试
品牌广皓天产地国产
温湿度均匀性士2.0°C,士5%RH内体材料不锈钢板(SUS#304或SUS316不锈钢板)
时间范围0 ~ 999 小时可调温度分布≤± 2.0°C.

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

非饱和加速老化试验箱,电子元件老化测试

一、适配电子元件老化测试

精准评估元件可靠性、稳定性及使用寿命,提前暴露封装开裂、参数漂移等缺陷,满足电子元件研发与质量管控的老化测试需求

非饱和加速老化试验箱,电子元件老化测试

二、技术参数

工作室容积50L~500L;温度范围-40℃~150℃,湿度范围10%RH~98%RH;控温精度±0.3℃,控湿精度±2%RH;温湿度波动度≤±0.2℃/±1%RH;升温速率5℃/min,降温速率3℃/min;偏压输出0~60V DC(精度±0.1V),支持多段程序编辑(100段曲线)。

三、产品结构

采用一体化紧凑结构,含SUS316L不锈钢耐腐蚀工作室、保温隔热层;配备可调节防静电样品架,设独立循环气路系统(变频风机+多组导流板);集成智能操控面板与核心控制系统,箱门带双重联锁装置,内置样品供电接口。

四、温度控制系统

搭载PID自整定高精度温控系统,配铂电阻温度传感器(精度±0.1℃);采用双级调控技术,实时采集箱内温度数据并动态补偿,避免热冲击,恒温阶段波动≤±0.2℃,支持温度梯度设定,满足不同电子元件老化测试的温控需求。

五、加湿系统

采用锅炉蒸汽加湿或超声波雾化加湿方式,搭配精密露点仪与湿度传感器闭环反馈;精准控制加湿量,维持非饱和湿热状态(无冷凝),湿度调节平滑稳定,有效避免冷凝水对电子元件造成非典型失效。

六、应用领域

广泛应用于半导体与微电子(车规级芯片、IC封装、MOSFET)、电子元器件(电容、电阻、连接器)、汽车电子(电控系统组件)、航空航天电子设备及电子材料研发等领域,用于失效分析、寿命评估及质量筛选。

七、产品特点

非饱和环境可控性强,模拟真实工况更精准;温湿度协同控制精度高,数据可追溯;支持复合应力老化测试,适配多种电子元件;具备故障预警与报警功能,运行安全稳定;操作便捷,支持程序自动运行与数据导出。

八、售后与服务

整机质保12-18个月,核心部件质保延长;提供7×24小时技术咨询与远程故障排查,重大问题48小时内现场服务;含上门调试校准、操作培训服务,定期回访并提供预防性维护建议,长期供应耗材。




留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7