两槽式冷热冲击试验箱 散热器测试
是一款用于测试材料、零部件及电子产品等在快速温度变化环境下耐受能力的专业设备。它通过在短时间内实现高温与低温之间的急剧切换，模拟各种温度冲击工况，从而评估被测对象的物理和化学性能变化、结构稳定性以及可靠性，广泛应用于航空航天、汽车制造、电子电器、科研院校等众多领域。

两槽式冷热冲击试验箱 散热器测试

安全保护装置

两槽式冷热冲击试验箱 散热器测试

应用优势

• 模拟环境：能够精准模拟芯片在现实应用中可能遭遇的温度变化环境，让芯片充分暴露在剧烈的温度变化条件下，有效检测芯片在不同温度梯度下的性能表现，如电气参数是否稳定、信号传输是否准确无误等，进而发现潜在的材料缺陷、封装问题或线路设计瑕疵.

• 检测热应力影响：芯片在温度急剧变化过程中会产生热应力，冷热冲击试验箱的反复高低温循环冲击，可使芯片内部的热应力不断累积和释放，从而精准地筛选出那些在热应力作用下容易出现结构损坏、连接点断裂或分层等问题的芯片，提前发现并解决此类问题，提高芯片在长期使用过程中的结构完整性和连接可靠性.

• 助力研发加速：在芯片研发阶段，冷热冲击试验箱能够在较短时间内对大量芯片样本进行全面且深入的可靠性测试，快速获取芯片在不同温度冲击条件下的性能数据和失效模式。研发人员依据这些数据，可及时对芯片的设计方案、材料选型以及制造工艺进行优化与改进，加快芯片研发进度，降低研发成本，使芯片能够更快地满足市场需求和相关标准要求.

• 保障关键应用：芯片在通信、医疗、汽车电子等关键领域的可靠性至关重要。冷热冲击试验箱通过严格的测试，确保芯片在这些高要求领域中能够承受温度变化的考验，为整个系统的稳定运行奠定坚实基础，有力地保障了各行业关键应用的顺利进行，避免因芯片故障引发的严重后果和巨大损失.

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW