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冷热冲击试验箱 检测芯片性能稳定
简要描述:

冷热冲击试验箱 检测芯片性能稳定
是一款用于测试材料、零部件及电子产品等在快速温度变化环境下耐受能力的专业设备。它通过在短时间内实现高温与低温之间的急剧切换,模拟各种温度冲击工况,从而评估被测对象的物理和化学性能变化、结构稳定性以及可靠性,广泛应用于航空航天、汽车制造、电子电器、科研院校等众多领域。

型号:TSD-100F-2P

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更新时间:2024-12-20

价格:45800

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冷热冲击试验箱 检测芯片性能稳定
品牌广皓天产地国产


冷热冲击试验箱 检测芯片性能稳定



 技术参数:
1、温度范围:
高温区:+60 ℃ ~ 200 ℃ 
低温区:A/-10 ℃~-40 ℃ , B/-10 ℃~-60 ℃ , C/-10 ℃~-70 ℃
工作室:A/0 ℃~-40 ℃ , B/-10 ℃~-55 ℃ , C/-10 ℃~-65 ℃
2、温度波动度: ±0.5℃
3、温度均匀度:±3℃
4、温度恢复时间:3~5min
5、高温槽升温速度:平均约5℃/min
6、低温槽降温速度:平均约1.5℃/min
7、高低温暴露时间:30min以上
8、高低温转换时间:≤15秒

冷热冲击试验箱 检测芯片性能稳定


控制系统:

 冷热冲击试验箱主控制器采用进口日本"OYO"双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏,可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态,PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式,仅需设定温度,可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备完善的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警,配置485通讯接口及运行软件。设定精度:温度:0.1℃ 时间:Is用户程序容量:10×99段。运行方式:程序运行,恒定运行。独立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。 温度恢复时间小于等于5分钟。



设备结构


  • 三箱式结构:主要由高温室、低温室和测试室三个部分构成。高温室可迅速升温至设定高温极值,如 150℃甚至更高,通过高效加热系统和均匀风道设计,保证温度分布均匀性。低温室能够精准降温至零下几十摄氏度,如 - 60℃左右,利用好制冷技术营造稳定低温环境。测试室位于两者之间,是放置样品的核心区域,样品可通过特殊吊篮或转移装置在极短时间内实现在高温室和低温室之间的快速转移.

  • 箱体材质:外箱通常采用 SUS304#不锈钢表面条纹处理,内箱也使用 SUS304# 不锈钢,内部填充硬质聚氨酯泡沫和玻璃纤维等隔热保温材料,有效减少热量散失,保证试验箱内温度的稳定性和均匀性.





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