产品简介
冷热冲击试验箱 检测芯片性能稳定是一款用于测试材料、零部件及电子产品等在快速温度变化环境下耐受能力的专业设备。它通过在短时间内实现高温与低温之间的急剧切换,模拟各种温度冲击工况,从而评估被测对象的物理和化学性能变化、结构稳定性以及可靠性,广泛应用于航空航天、汽车制造、电子电器、科研院校等众多领域。
产品分类
冷热冲击试验箱 检测芯片性能稳定
技术参数:
1、温度范围:
高温区:+60 ℃ ~ 200 ℃
低温区:A/-10 ℃~-40 ℃ , B/-10 ℃~-60 ℃ , C/-10 ℃~-70 ℃
工作室:A/0 ℃~-40 ℃ , B/-10 ℃~-55 ℃ , C/-10 ℃~-65 ℃
2、温度波动度: ±0.5℃
3、温度均匀度:±3℃
4、温度恢复时间:3~5min
5、高温槽升温速度:平均约5℃/min
6、低温槽降温速度:平均约1.5℃/min
7、高低温暴露时间:30min以上
8、高低温转换时间:≤15秒




冷热冲击试验箱 检测芯片性能稳定
控制系统:
冷热冲击试验箱主控制器采用进口日本"OYO"双回路高精度液晶显示触摸按键温度控制器。该控制器采用液晶显示触摸屏,可显示设定参数、试验曲线、运行时间、加热器工作状态,PID参数自整定功能。控制程序的编制采用人机对话方式,仅需设定温度,可实现制冷机自动运行功能。控制系统具备*的检测装置能自动进行详细的故障显示。报警,配置485通讯接口及运行软件。设定精度:温度:0.1℃ 时间:Is用户程序容量:10×99段。运行方式:程序运行,恒定运行。独立超温保护仪表。设备工作时间累计计时器。低温区、高温区转换时间小于等于15秒。 温度恢复时间小于等于5分钟。



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