芯片测试-60℃~+150℃冷热冲击试验箱‍
是一款用于测试材料、零部件及电子产品等在快速温度变化环境下耐受能力的专业设备。它通过在短时间内实现高温与低温之间的急剧切换，模拟各种温度冲击工况，从而评估被测对象的物理和化学性能变化、结构稳定性以及可靠性，广泛应用于航空航天、汽车制造、电子电器、科研院校等众多领域。

芯片测试-60℃~+150℃冷热冲击试验箱‍

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW

芯片测试-60℃~+150℃冷热冲击试验箱‍

结构特点：
⒈高质感外观，机体采圆弧造型，表面经雾面条纹处理，采用数控机床加工成型，并采用平面无反作用把手，操作容易简便。造型美观大方、新颖。
⒉长方形复层玻璃观窗口，大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且采用双层玻璃，随时清晰的观测试验中进行试验品，窗口具防汗电热器装置可防止水气凝结水滴，及高亮度PL荧光灯保持箱内照明。
⒊箱门双层隔绝气密迫紧，可有效隔绝内部温度泄漏。
⒋具可外接式供水系统，方便于补充加湿桶供水，并自动回收使用。
5.设有独立限温报警系统，超过限制温度即自动中断，***实验安全运行不发生意外。箱体左侧配直径50mm的测试孔。
6.冷热冲击试验箱箱体箱体内胆采用进口不锈钢（SUS304）镜面板或304B氩弧焊制作而成。

制冷优点:

10、传统设备低温控制方式：

制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）

制冷压缩机恒定运行+加热PID 控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）

11、PWM 冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM 技术控制调节制冷机组制

冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。此方式在低温工况下，可实现降低40%的能耗。