硬盘芯片冷热冲击试验箱
用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料瞬间耐热耐寒。耐干、耐湿性能。适合于科研机构，塑胶制品、电子产品、包装材料、车载摄像头、化妆品、电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

硬盘芯片冷热冲击试验箱

技术参数：
1、温度范围：
高温区：+60 ℃ ～ 200 ℃
低温区：A/-10 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-60 ℃ , C/-10 ℃～-70 ℃
工作室：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃
2、温度波动度: ±0.5℃
3、温度均匀度：±3℃
4、温度恢复时间:3~5min
5、高温槽升温速度:平均约5℃/min
6、低温槽降温速度:平均约1.5℃/min

7、高低温暴露时间:30min以上

硬盘芯片冷热冲击试验箱

制冷优点:

10、传统设备低温控制方式：

制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）

制冷压缩机恒定运行+加热PID 控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）

11、PWM 冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM 技术控制调节制冷机组制

冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。此方式在低温工况下，可实现降低40%的能耗。

性能特点：
1、气动式阀门方便开启，***气密及断热保护；
2、试验槽静止，可由测试孔外加负载配线；
3、蓄能方式可避免使用者职业伤害；（注：液态气体所产生的废气，吸入肺部致使肺部氧气量减少，而产生工作倦怠，注意力不集中等）
4、温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制；
5、可选择始动位置，高温或低温开始循环；
6、具有预约起动功能；