硬盘芯片测试两箱式冷热冲击试验箱
用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料瞬间耐热耐寒。耐干、耐湿性能。适合于科研机构，塑胶制品、电子产品、包装材料、车载摄像头、化妆品、电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

硬盘芯片测试两箱式冷热冲击试验箱

1.造型设计：圆弧造型及表面喷塑处理，高质感外观，更显洁净美观。
2.箱体内胆采用(SUS304)不锈钢板。
3.箱体外壳采用A3钢板数控机床加工成型，造型美观大方。
4.观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃热玻璃观察窗一个(300×200mm ).观察窗上安装照明灯。
5.本冷热冲击试验箱分为高温区、低温区、测试区三部分，具之断热结构及蓄热蓄冷效果。
6.可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件的功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽或三槽之功能，具有高低温试验箱的功能。
7.试验时待测物静止，应用冷风路切换方式导入试品中，做冷热冲击测试试验。
8.保温材料采用防火和隔热高密度纤维棉。
9.测试区内附上下可调不锈钢盘两组，便于吊蓝上下转换的隔温性。
10.样品架承重量为：(162型、300型20kg)(500型30kg)(010型50kg)。
11.箱体左侧配Φ50mm测试孔一个，可供外接测试电源线或信号线使用。
12.冷热冲击试验箱箱体底部加装高质量承载PU活动轮，便于客户移动设备。

硬盘芯片测试两箱式冷热冲击试验箱

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW

制冷优点:

10、传统设备低温控制方式：

制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）

制冷压缩机恒定运行+加热PID 控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）

11、PWM 冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM 技术控制调节制冷机组制

冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。此方式在低温工况下，可实现降低40%的能耗。