硬盘芯片-60℃~+150℃冷热冲击试验箱
用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料瞬间耐热耐寒。耐干、耐湿性能。适合于科研机构，塑胶制品、电子产品、包装材料、车载摄像头、化妆品、电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

硬盘芯片-60℃~+150℃冷热冲击试验箱

性能

温度范围：-20℃～+150℃-40℃～+150℃-60℃～+150℃-70℃～+150℃

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：≤ ±2.0℃

升温时间：-20→+150℃≤ 35分钟（约3℃/min）

降温时间：+20→-20℃≤45分钟（约1.2℃/min）

硬盘芯片-60℃~+150℃冷热冲击试验箱

制冷优点:

10、传统设备低温控制方式：

制冷压缩机启停控制温度（温度波动大、严重影响压缩机寿命，已淘汰的技术）

制冷压缩机恒定运行+加热PID 控制（导致制冷量与加热相抵消实现温度动态平衡，浪费了大量的电能）

11、PWM 冷控制技术实现低温节能运行：低温工作状态，加热器不参与工作，通过PWM 技术控制调节制冷机组制

冷剂流量和流向，对制冷管道、冷旁通管道、热旁通管道三向流量调节，实现对工作室温度的自动恒定。此方式在低温工况下，可实现降低40%的能耗。

1. 箱体材质：外壳采用优质冷轧钢板喷塑处理，防锈且美观大方；内胆采用不锈钢板制作，具有良好的耐腐蚀性能，易于清洁，可有效避免对测试芯片造成污染。

2. 保温材料：采用高密度聚氨酯泡沫保温材料，保温效果优异，减少热量散失，降低能耗，同时确保箱内温度的稳定性。

3. 样品架设计：配备多层可调节样品架，可根据 DV 芯片的大小和数量灵活调整放置方式，方便样品的取放和测试操作，且样品架采用导热性能良好的材质制作，保证芯片与测试环境的热交换效率。

4. 观察窗：在箱体门上设有大面积的观察窗，采用双层钢化玻璃制作，具有良好的隔热和防雾性能，便于操作人员在测试过程中实时观察芯片的状态变化。