标准款芯片测试恒温恒湿试验箱
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质。

标准款芯片测试恒温恒湿试验箱

用途

标准款芯片测试恒温恒湿试验箱

控制器

显示器
试验箱采用进口日本数显触摸按键温湿度控制仪，P.I.D***控制，***长期运行不稳定现象；湿度为直观显示控制，摒弃原有温湿度相对照的缺陷显示分辩率
温度：0.1℃（显***围）
时间：0.1min
湿度：0.1%RH（温湿度试验设备）
感温传感器：PT100铂金电阻测温体
控制方式：热平衡调温调湿方式
温湿度控制采用P.I.D + S.S.R系统同频道协调控制
具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更为稳定
附属功能
故障报警及原因、处理提示功能
断电保护功能
日历定时功能（自动启动及自动停止运行）

1、型号：SMC-100PF    温度范围：-40～150℃

2.工作室温度范围：0;-20;-40;-60;-70～+100℃(150℃)

3.湿度范围： 20%～98% R.H（温度在25℃～80℃时）（可设定恒湿）

4.温度均匀度： ≤±2℃ （空载时）

5.湿度均匀度： ≤+2% ~ -3% R.H

6.温度波动度： ≤±0.5℃（空载时）

7.湿度波动度： ≤±2% 

8.温度偏差： ≤±2℃ （空载时）

9.湿度偏差： ±2.5%R.H(湿度≥75%R.H)   ±3%R.H(湿度≤75%R.H)

10、降温速率：0.7～1.2℃/min  

11、升温速度：1.0～3.0℃/min

12、时间设定范围：  0～9999 小时

13、温度交变范围：-20;-40;-60;-70；-100℃～100℃(150℃)（自定）

14、湿度交变范围：30%～98% R.H（自定）