控制器：高性能可编程触摸屏控制器，支持USB数据导出和远程监控。在短时间内暴露潜在缺陷，是保障电子产品长期工作稳定性、提升产品寿命与可靠性的关键工具，广泛应用于研发、质量认证与生产筛选环节。非饱和加速老化试验箱，电子元件试验设备

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

非饱和加速老化试验箱，电子元件试验设备

1. 重要性
在电子元件及产品的可靠性验证中，非饱和加速老化试验箱是核心设备。电子元器件、电路板（PCB）、模块及整机对高温高湿环境极为敏感，其典型失效模式（如电化学迁移、金属腐蚀、塑封料开裂、参数漂移、绝缘失效）主要由湿气渗透和热应力协同引发。

非饱和加速老化试验箱，电子元件试验设备

2. 产品特点
针对电子元件测试的高敏感性，本设备具备以下突出特点：

• 洁净与稳定：内腔环境纯净，无油污、颗粒及腐蚀性污染物释放，避免干扰电学性能测试。

• 精准的非饱和控制：避免冷凝水直接滴落或附着于样品表面，确保失效机理为“湿气扩散渗透"而非“液体水短路"，与真实场失效模式一致。

• 高精度与均匀性：温度和湿度控制精度高，箱内空间均匀性优异，确保每个电子样品承受一致的应力条件，数据可比性强。

• 宽范围快速变温：支持快速温变率（如3℃/min, 5℃/min甚至更高），满足带温度循环的湿热测试要求（如THB测试）。

• 强大的数据追踪：详细记录全过程参数，为失效分析提供精准的环境背景数据。

3. 用途
专用于电子电工产品的可靠性试验，主要包括：

• 稳态湿热试验：如85℃/85% RH、60℃/93% RH等长时间恒定条件测试，用于评估材料的吸湿特性及长期耐候性。

• 温度湿度偏压试验：在施加电偏压的条件下进行，用于加速评估电化学迁移、腐蚀等失效。

• 高低温湿热交变试验：模拟昼夜或季节变化，评估热胀冷缩与湿气侵入的复合效应。

• 主要测试对象：IC芯片、半导体器件、PCB/PCBA、光电元件、连接器、电容器等。

4. 技术参数
满足电子行业严苛标准的核心参数：

• 温度范围：-40℃ ~ +150℃（宽范围以满足冷热冲击与存储要求）。

• 湿度范围：20% ~ 98% RH（在相应温度区间内可实现）。

• 温湿度控制精度：温度±0.3℃，湿度±1.5% RH。

• 温湿度均匀度：温度≤±1.0℃，湿度≤±3.0% RH（空载）。

• 升温/降温速率：1℃/min ~ 5℃/min（线性，可定制更高速率）。

• 内箱容积：标准80L、150L、300L或定制。

5. 产品性能
为确保测试有效性，设备性能表现为：

• 长期运行稳定性：能够连续数百小时甚至上千小时运行，参数漂移极小。

• 低热惯性设计：温度变化响应迅速，程序切换准确。

• 低干扰设计：电气控制系统与测试区有效隔离，减少对敏感电子元件的电磁干扰。

• 安全冗余：具备多重独立安全保护（超温、超湿、短路、风机过载等），保护昂贵待测样品。

6. 加湿系统
采用高洁净度的蒸汽加湿系统，是电子测试的关键：

• 工作原理：使用高纯度去离子水（电阻率≥1 MΩ·cm），通过电热或电极方式产生纯净蒸汽，经 PID 控制精确导入循环风道。

• 优势：

1. 无污染：避免超声波加湿可能产生的离子污染或白粉。

2. 响应快：在高干球温度下也能快速建立高湿条件。

3. 易控制：蒸汽注入量可精确调节，湿度波动小