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半导体测试 高低温试验箱
简要描述:

半导体测试 高低温试验箱
本系列产品广泛用于航空、航天、电子、仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备等做加速湿热试验、交变湿热试验、恒定湿热试验,也可用做高低温例行试验、耐寒试验、低温储存,以便对试验中拟定环境条件下的性能、行为作出分析及评价。

型号:THA-225PF

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更新时间:2024-10-14

价格:45000

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半导体测试 高低温试验箱
品牌广皓天分类恒温恒湿箱
产地国产内容量225L
温度范围-70℃~150℃内箱尺寸500*600*750
湿度范围10%~98%RH解析精度温度:0.01℃ 湿度:0.1%RH
升温时间20℃-150℃约30min降温时间20℃-20℃≤30min
外壳材料SUS304不锈钢

半导体测试 高低温试验箱


结构材料: 

  1、内箱材质: SUS304不锈钢  镜面光板;

  2、保温材质: 聚胺脂硬质发泡、超细玻璃纤维绵;

  3、门框隔热: 双层耐高温老化硅橡胶门密封条;

  4、外箱材质:   碳素钢板.磷化静电喷塑处理SUS304不锈钢雾面线条发纹处理;

  5、标准配置: 附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔50mm1个。

半导体测试 高低温试验箱

技术参数:

1.温度范围:-20℃~150℃
2.湿度范围:20%~98%R.H
3.温度均匀度:≤±2℃(空载时)
4.湿度均匀度:+2%-3%R.H
5.温度波动度:≤±0.5℃(空载时)
6.湿度波动度:±2%
7.温度偏差:≤±2℃
8.湿度偏差:≤±2%
9.降温速率:0.7~1.0℃/min
10.升温速率:1.0~3.0℃/min
11.时间设定范围:0~999小时
12.电源电压:380V±10%
13.设备总功率:3KW~15KW


半导体测试 高低温试验箱

控制系统

1.温度控制仪:高精度数显温控仪,控制精确、平稳,长期运转不漂移。

2.传感器:PT100测温传感器

3.控制加热输出采用固态继电器过零触发,以降低噪声,减少污染,方便维修,提高控制精度。

4.在控制系统中需设有安全保护措施,包括:缺相保护、相序错误保护、相电压不平保护、风机过载保护、超温断电保护、漏电等保护。

5.控制系统设有方便用户的操作面板,设在试验箱左上部,设有电源、照明和各功能操作按键以及故障指示灯。 

6.在系统中除了主控制器外,还设置一独立的超温保护器,即使主控制器出现故障,超温保护器也能可靠的断开加热电源以保护设备和试品的安全。

7.在电气控制系统中设有互锁装置,当循环风机没有启动或过载时加热和加湿系统不能启动。

 


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