型号:TEB-408PF
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更新时间:2025-09-29
价格:54680
在线留言品牌 | 广皓天 | 产地 | 国产 |
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升温时间 | 士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士 | 制冷方式 | 机械式双级压缩制冷方式(气冷冷凝器或水冷换热器) |
内体材料 | 不锈钢板(SUS304CP种,2B抛光处理) | 温度范围 | -70°C~+150°C |
生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品
动态响应: 专为低热容、高灵敏度芯片设计,实现远超常规箱体的升降温速率,精准模拟芯片在启停、高低功耗切换时的温度冲击。
无振运行环境: 采用风机与抗震设计,并优化风道气流,限度降低设备运行振动,避免微振动干扰芯片的电气测试结果。
高精度控制: 对芯片测试区域的微环境进行精准控温,温度波动极小,确保测试条件的稳定性和重复性。
专用接口集成: 箱体预留标准化的测试通孔或法兰接口,便于连接测试台(Test Socket)的线缆、气路及信号线,确保密封性与测试便利性。
温度范围: -70℃ ~ +200℃(覆盖芯片从存储到结温的极限条件)
温变速率: 线性10℃/min ~ 25℃/min,甚至更高(在特定负载下,如芯片测试座)
温度波动度: ≤±0.3℃
温度均匀度: ≤±1.5℃(空载,在芯片承载区域)
内箱尺寸: 紧凑型设计,如 400×500×400mm,优化空间以提升气流效率。
数据采样率: 高频率温度采集系统,能捕捉瞬态温度变化。
工作室: 采用镜面不锈钢,内壁光滑无缝,确保洁净度高,防止污染物影响芯片。
专用载物架: 配备高导热率的测试板安装支架,确保芯片测试座能与箱内空气进行高效热交换。
引线系统: 配置高低温密封的电气引线孔,支持多路、高密度线缆穿过,阻抗低,干扰小。
低热容设计: 内部结构尽可能采用低热容材料,减少热惯性,从而提升温度变化的响应速度。
自适应智能控制: 采用基于PID与前馈(Feedforward)结合的算法,能预测并补偿因温度剧烈变化带来的系统扰动,实现无超调、线性的温变曲线。
多区控制技术: 在工作室的进口和回风口设置多组传感器,实现分区域动态调节风温与风速,确保芯片安装区域的温度高度均匀。
实时功率监控: 系统实时监控并动态分配加热与制冷功率,确保在任何设定点都能提供能量输出。
专用于芯片的可靠性测试与性能验证:
温度循环与冲击测试: 考核芯片封装不同材料的热膨胀系数匹配性,暴露键合、焊接层面的早期失效。
电性能测试: 在高低温交变过程中,实时监测芯片的电参数(如功耗、频率、漏电流),绘制其性能与温度的关系曲线。
失效分析: 通过快速温变,加速诱发芯片的潜在缺陷,用于可靠性筛选与质量评估。
寿命老化测试: 模拟芯片在整个生命周期中所经历的温度应力,预估其使用寿命。
测试效率倍增: 极快的温变速率能大幅缩短单次测试周期,加快产品研发与质量认证进程。
数据精准可靠: 温度均匀性、稳定性和无振环境,为芯片测试提供了近乎理想的条件,保证了测试数据的准确性。
高兼容性与集成度: 专为自动化测试系统设计,支持远程控制和数据采集,可轻松集成到芯片测试生产线中。
投资回报率高: 虽然初期投入较高,但其提升的测试效率、精度和可靠性,能为芯片制造商节省大量的时间成本与潜在质量风险。
负载热容管理: 需严格控制测试板及夹具的热容量,过大的负载会显著降低实际温变速率,影响测试效果。
线缆连接规范: 穿过引线孔的测试线缆应捆扎整齐,避免堵塞风道,并确保密封性,以免影响箱内温场和制冷效率。
防止冷凝水: 在进行低温到高温的循环时,若湿度控制不当,可能在芯片或测试座上产生冷凝水,造成短路。需根据测试规范合理设置程序或使用干燥空气吹扫。
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