产品简介
针对电子产品及零部件,模拟非饱和湿热、高低温交替等复杂自然环境,加速其老化进程,检测核心老化性能。可精准评估电路板、电子元器件、塑料外壳、连接器等产品,在长期使用中是否出现绝缘性能下降、接触不良、外壳开裂变色、元器件失效、性能衰减等问题,非饱和加速老化试验箱 电子产品老化性能
产品分类

设备采用模块化组合结构,布局合理、便于维护。主体为耐腐蚀冷轧钢板箱体,内壁采用304不锈钢,光滑易清洁、无污染物析出;工作室配备分层样品架,可灵活放置不同规格电子产品;箱门采用钢化玻璃,搭配密封胶条,保温密封性强,便于实时观察试验状态;控制系统集成于箱体正面,操作便捷;底部设有脚轮与调平装置,便于移动与固定;内置加热、制冷、加湿、除湿及循环风机模块,各部件独立布局,运行稳定且维护便捷。

采用进口压缩机组,搭配风冷散热方式,制冷效率高、能耗低,运行稳定无噪音。制冷系统采用二元复叠技术,可实现宽范围温度调节,适配不同电子产品低温老化测试需求;配备冷凝器、干燥过滤器等部件,有效防止制冷管路堵塞、结霜,延长机组使用寿命;具备制冷过载、超压保护功能,当系统出现异常时自动停机报警,避免设备损坏;制冷速度快,空载状态下降温速率可达0.5℃~1℃/min,确保试验高效推进。

1. 控温精准稳定,采用闭环调控技术,有效规避温度波动对电子产品老化测试结果的影响;2. 非饱和加湿无凝露,避免冷凝水损坏电子产品元器件,保障试验安全性;3. 操作便捷,可视化触摸屏,支持程序预设、自动运行,无需专人全程值守;4. 多重安全保护,守护设备、样品及操作人员安全;5. 箱体耐腐蚀、保温性强,适配长期连续运行,能耗低、使用寿命长;6. 适配性广,可满足不同规格、类型电子产品的老化测试需求。






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