广皓天快速温变试验箱中标某上市公司用于车规级芯片AEC-Q100循环认证测试
点击次数：16 更新时间：2026-06-17
国内上市半导体企业环境可靠性设备招标项目尘埃落定，广皓天凭借快速温变试验箱成熟车规测试解决方案成功中标，多台定制款快速温变试验箱完成交付投用，全面服务企业车规级 MCU、功率芯片 AEC-Q100 温度循环认证测试，为国产车载芯片合规化、规模化量产筑牢可靠性验证根基。 随着新能源汽车、智能座舱产业高速发展，车规芯片准入门槛持续提升，AEC-Q100 作为通用车规集成电路强制认证标准，其中温度循环 TC 测试是判定芯片能否装车的核心环节。车辆行驶中芯片需长期承受 - 40℃至 125℃大幅温差反复冲击，冷热交替产生的材料应力极易造成封装分层、焊球开裂、电参数漂移等隐性失效，必须依靠高精度快速温变试验箱完成上千次加速循环验证，才能出具具备行业认可度的认证检测数据，传统恒温设备温变速率不足、温场均匀性差，已无法匹配严苛认证需求。
本次中标的广皓天快速温变试验箱针对 AEC-Q100 标准专项优化，采用双级复叠制冷与全域导流风道结构，宽温域覆盖 - 70℃~+180℃，线性升降温速率 5-20℃/min 连续可调，控温波动≤±0.3℃，腔体温场均匀度控制在 ±1℃以内，复现标准规定的极速冷热交变工况。设备支持批量装载晶圆、封装芯片与测试治具，可搭配上电监测模组开展功率温度循环测试，在 1000 次不间断循环中实时捕捉芯片漏电、时序偏移、键合脱落等缺陷，测试数据自动存储归档，满足 IATF16949 车规体系与认证机构溯源要求。
区别于通用测试设备，该款快速温变试验箱增设防静电、防凝露内胆，规避温变过程水汽、静电损伤精密芯片；搭载多段程序编辑系统，内置 AEC-Q100 全等级标准测试曲线，一键调取即可自动运行 7×24 小时无人值守测试。经企业实验室对比验证，使用广皓天快速温变试验箱后，单批次芯片温循认证周期缩短 55%，温场偏差导致的复测率降至零，大幅降低芯片研发认证时间与测试成本。 项目采购负责人表示，本次招标对快速温变试验箱温变速率、控温精度、长期连续运行稳定性设置多重严苛门槛，多家设备厂商样机比对后，广皓天快速温变试验箱在宽温域稳定性、半导体适配性、售后技术配套层面综合优势突出，能够同步覆盖新品研发验证与量产出厂筛选双重需求。
深耕环境可靠性装备领域多年，广皓天快速温变试验箱已批量配套多家芯片、汽车电子上市企业，持续对标 AEC-Q100、JEDEC 等国际标准迭代核心温控技术。此次中标，再度印证广皓天快速温变试验箱在车规半导体检测赛道的过硬实力，未来企业将持续优化快速温变试验箱定制方案，助力更多国产车规芯片顺利完成认证，加速本土汽车半导体产业链自主化进程。
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