广皓天非饱和加速老化试验箱与某晶圆厂达成合作缩短半导体器件研发验证周期
点击次数：40 更新时间：2026-02-04
近日，广皓天检测仪器有限公司宣布，其自主研发的非饱和加速老化试验箱成功与国内某晶圆厂达成深度合作，设备已完成安装调试并正式投入使用。此次合作将依托广皓天非饱和加速老化试验箱的核心技术优势，破解半导体器件研发验证周期长的行业痛点，为合作方半导体器件研发、性能验证提供高效支撑，助力其加快产品迭代速度，提升市场核心竞争力。 随着5G、人工智能、自动驾驶等领域的快速发展，半导体器件向微型化、高功率、高可靠性方向迭代，晶圆厂对半导体器件的研发验证效率提出了更高要求。传统老化测试设备难以精准复刻半导体器件实际服役中的非饱和湿热环境，易导致测试数据偏差，且测试周期长达数月甚至数年，严重制约研发进度，增加研发成本，成为半导体行业高质量发展的重要瓶颈。
此次合作落地的广皓天非饱和加速老化试验箱，凭借精准的环境模拟能力和高效的加速老化技术，成为破解这一痛点的核心装备。该设备以阿伦尼乌斯方程为核心原理，可精准构建非饱和湿热环境，通过独特的蒸汽与干热空气平衡调控技术，将相对湿度精准控制在10%~98%RH区间，温度范围覆盖常温至150℃以上，有效避免冷凝水对半导体器件样品的非典型侵蚀，更贴近器件实际服役状态。
相较于传统老化测试设备，广皓天非饱和加速老化试验箱的加速效率实现跨越式提升，可在数十至数百小时内完成传统设备数千小时的测试任务，72小时即可模拟半导体器件10年自然损耗，将半导体器件研发验证周期缩短60%以上。同时，该设备搭载高精度传感器与PID智能控制系统，温度控制精度达±0.5℃，湿度偏差控制在±2%RH，符合JESD22-A110、IEC 60068-2-66等多项半导体行业国际标准，能精准暴露器件封装树脂开裂、芯片腐蚀、引线断裂等潜在缺陷，为研发优化提供科学数据支撑。 合作方某晶圆厂技术负责人表示，广皓天非饱和加速老化试验箱的投入使用，解决了企业此前研发验证周期长、数据可靠性不足的难题，不仅大幅提升了半导体器件研发效率，更降低了研发成本与量产风险，为企业抢占半导体器件市场奠定了坚实基础。
广皓天相关负责人表示，此次与某晶圆厂的合作，是其非饱和加速老化试验箱在半导体领域的重要应用突破，彰显了设备的技术实力与行业认可度。未来，广皓天将持续深耕半导体试验设备领域，依托50余项技术积淀，不断优化非饱和加速老化试验箱的环境模拟精度与智能化水平，推出更贴合半导体行业需求的定制化解决方案，助力我国半导体产业自主研发能力提升，推动产业高质量发展。
地址：广东-东莞-常平镇常平中信路101号1号楼102室
电话：86-0769-81085056
邮箱：1683543290@qq.com