广皓天联合机构快温变小型高低温试验箱获 “半导体测试设备推荐产品” 认证

近日，广东皓天检测仪器有限公司联合中国半导体测试技术创新联盟（CSTIA）完成设备测评，旗下快温变小型高低温试验箱凭借在半导体芯片环境可靠性测试中的优异表现，正式斩获 “半导体测试设备推荐产品" 认证，成为西南地区获此认证的精密温变测试设备品牌，为半导体产业国产化测试提供新选择。

此次认证测评中，该设备在三大核心指标上表现突出：一是温变精度，15℃/min 高速温变速率下，试验舱内各点位温差≤0.8℃，远超半导体测试行业≤1.5℃的标准；二是温域适配，-85~150℃宽温域可覆盖芯片封装、车载半导体等多场景测试需求，其中 - 55℃~125℃常用区间控温偏差稳定在 ±0.3℃；三是抗干扰设计，设备内置电磁屏蔽层，在半导体晶圆测试环境中，可避免外界信号对测试数据的干扰，数据重复性达标率达 99.2%。

据了解，为适配半导体场景，广皓天还对设备进行定制化升级：针对芯片微小样品测试，优化试验舱内样品固定装置，支持多组芯片同步测试；搭载智能测试软件，可与半导体测试系统（ATE）联动，自动生成温变 - 电性能关联报告。某半导体芯片设计企业测试部经理反馈：“使用该设备后，芯片高低温可靠性测试周期从 15 天缩短至 10 天，测试数据与进口设备吻合度达 98%。"