广皓天为半导体提供快速温变高低温测试箱，加速芯片环境适应性测试

随着半导体产业向微型化发展，芯片在温度环境下的稳定性成为决定产品竞争力的关键。近日，国内试验设备企业广皓天针对半导体行业痛点，推出定制化快速温变高低温测试箱解决方案，凭借设备温变控制能力与精准测试性能，有效缩短芯片环境适应性测试周期，为半导体企业研发与量产提供高效支撑，助力行业突破测试环节瓶颈。

当前，半导体芯片广泛应用于消费电子、工业控制、新能源等领域，不同应用场景对芯片的温度适应能力要求差异显著。例如，工业级芯片需耐受 -40℃~85℃的温度波动，车规级芯片更是面临 -55℃~125℃的环境考验。传统测试设备存在温变速率慢、控温精度低、测试效率不足等问题，难以满足芯片快速迭代下的测试需求，而广皓天快速温变高低温测试箱的出现，为这一难题提供了高效解决方案。

广皓天这款针对半导体行业定制的快速温变高低温测试箱，具备三大核心优势。其一，超宽温域与极速温变，设备温度范围覆盖 -70℃~180℃，可精准匹配消费级、工业级、车规级等不同类型芯片的测试需求，同时温变速率可达 30℃/min，相比传统设备 5℃/min 的速率，将芯片从低温到高温的循环测试时间缩短 80% 以上，大幅提升测试效率。其二，高精度控温与稳定测试环境，设备搭载进口温控模块与多点温度采集系统，控温精度稳定在 ±0.1℃，温度均匀度≤0.3℃，可模拟芯片在高低温交替下的真实工作状态，确保测试数据的准确性与重复性，为芯片设计优化提供可靠数据依据。其三，定制化测试功能，针对芯片小巧精密的特性，设备内置防静电测试腔体与多通道接口，支持同时对多颗芯片进行并行测试，且可联动芯片测试系统实现 “温变 - 电性能" 同步监测，实时捕捉温度变化对芯片电压、电流、算力等参数的影响，进一步提升测试全面性。