测试过程中样品受潮损坏，快温变小型高低温试验箱需要额外配除湿功能吗？

点击次数：23 更新时间：2025-10-14

一、样品受潮的核心原因：温变与湿度的隐性关联

快温变小型高低温试验箱在实现 - 70℃至 180℃宽域温变时，箱内空气湿度会随温度波动发生显著变化：当设备从高温快速降温至露点以下（如从 60℃降至 20℃），空气中的水蒸气会凝结成液态水，附着在样品表面或测试夹具上；若测试样品为电路板、锂电池极片等吸湿性材料，水分渗透后可能引发短路、容量衰减等问题。某电子企业曾在无除湿功能的快温变小型高低温试验箱中测试传感器，仅 3 次温变循环后，样品因受潮出现信号漂移，直接导致测试报废。

需注意的是，并非所有测试场景都需除湿功能：若样品本身具备防水特性（如密封外壳的汽车零部件），或测试标准仅要求温度循环（无湿度指标），基础款快温变小型高低温试验箱即可满足需求；但当测试涉及 “温湿度综合循环”（如 IEC 60068-2-30 标准），或样品为半导体芯片、新能源电池材料等湿度敏感件时，除湿功能成为必要配置。

二、除湿功能的两种配置方案：适配不同测试需求

针对快温变小型高低温试验箱，行业主流除湿方案分为两类，用户可根据需求选择：

低温冷凝除湿：利用设备制冷系统，将箱内空气温度降至露点以下，使水蒸气凝结成水后通过排水孔排出。该方案成本较低，湿度控制范围为 20%-95% RH，适用于对湿度精度要求不高的场景（如汽车零部件温湿度循环测试），可直接集成在现有快温变小型高低温试验箱中，无需大幅改造设备结构。

转轮除湿：通过蜂窝状除湿转轮吸附空气中的水分，再经高温再生段将水分排出，湿度控制精度可达 ±3% RH，能实现 5% RH 的低湿度环境。该方案适配高精度测试需求（如半导体芯片的湿热老化测试），需在快温变小型高低温试验箱内部增加转轮模块与风道系统，虽成本较高，但能满足严苛的湿度控制标准。

三、配置建议：从测试需求出发的决策逻辑

用户在判断是否为快温变小型高低温试验箱配置除湿功能时，可遵循三步决策法：

查标准：优先参考测试依据的行业标准（如电子类产品看 GB/T 2423.4，电池类看 GB/T 31485），若标准明确要求温湿度协同控制，必须配置除湿功能；

看样品：分析样品的湿度敏感性 —— 若样品在湿度＞60% RH 环境下易失效（如纸质基材、金属镀层件），建议配置除湿功能；

算成本：对比 “除湿功能投入” 与 “样品损坏损失”，若单次测试样品价值较高（如航空航天用传感器），配置除湿功能可大幅降低测试风险，长期更具经济性。

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