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一是振动方向偏移。电磁式振动测试台的标准振动方向为垂直方向(Z 轴),但倾斜的台面会使振动能量分解为垂直与水平两个分力。例如当台面偏差 0.8° 时,垂直方向的有效振动加速度会损失 5%,同时在水平方向产生额外的附加振动,这对仅需垂直振动测试的样品(如芯片封装件)而言,相当于引入了 “虚假振动干扰",导致测试环境与实际工况偏离。
二是台面各点振动参数失衡。倾斜台面的两端会形成 “高低差",靠近低端的样品受到的振动激励力明显小于。某实验室测试数据显示:当电磁式振动测试台台面水平度偏差 1° 时,台面两端的加速度差值可达 8%,同一批测试的传感器出现 “部分合格、部分失效" 的矛盾结果,实际并非产品质量问题,而是水平度偏差导致的测试。
对微型精密件(如芯片、MEMS 传感器)而言,影响尤为显著。这类样品的敏感元件尺寸仅微米级,台面倾斜导致的微小附加力(如 0.1N 的水平分力)就可能使其内部引线产生额外应力。用水平度偏差 1.2° 的电磁式振动测试台测试芯片焊点时,焊点的疲劳失效时间较正常测试缩短 30%,误判为 “焊点强度不足",而实际在水平台面测试中,该批芯片符合标准。