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恒温恒湿快速温变试验箱半导体双 85 测试
简要描述:

设备是半导体芯片研发、质量认证与可靠性筛选领域中关键工具,为提升芯片产品的市场竞争力提供了强有力的技术保障。恒温恒湿快速温变试验箱半导体双 85 测试

型号:TEB-600PF

浏览量:880

更新时间:2025-09-25

价格:79560

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恒温恒湿快速温变试验箱半导体双 85 测试
品牌广皓天产地国产
升温时间士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士内体材料不锈钢板(SUS304CP种,2B抛光处理)
制冷方式机械式双级压缩制冷方式(气冷冷凝器或水冷换热器)温度范围-70°C~+150°C
降温时间非线性升温速率( 5°C/10°C/15°C/20°C/25°C)线性升温速率(5°C/10°C/1

生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

恒温恒湿快速温变试验箱半导体双 85 测试

温度控制系统

采用超高精度PID智能控制器,配备高稳定性、低漂移的铂电阻传感器。系统具备强大的程序功能,可模拟从“双85"静态存储到带快速温变循环的动态测试剖面。数据记录功能能完整追踪整个测试过程的温湿度曲线,为失效分析提供可靠依据。


恒温恒湿快速温变试验箱半导体双 85 测试





恒温恒湿快速温变试验箱半导体双 85 测试

制冷系统

采用高性能机械压缩复叠式制冷系统。针对“双85"测试中高温高湿环境下仍需强力除湿的特点,系统进行了专门优化,确保在高温段也能提供强大的制冷能力,实现快速、精确的湿度控制,避免过冲。

加湿系统

采用锅炉式蒸汽加湿方式,产生纯净蒸汽,避免因水质不纯污染箱内环境或腐蚀芯片表面。除湿系统响应迅速,能快速达到并稳定维持所需的低湿条件(如进行干燥恢复测试)。


恒温恒湿快速温变试验箱半导体双 85 测试


产品优势总结

  1. 精准可靠:为“双85"测试量身定制的性能,确保测试条件的准确性与重复性,符合JEDEC等行业标准。

  2. 长期稳定:耐腐蚀材料和坚固结构保障设备在条件下长期连续运行。

  3. 数据可信:优异的均匀性和稳定性,确保每批芯片测试结果的可比性

  4. 高效灵活:快速的温变能力不仅可用于稳态测试,还可进行高加速应力筛选,提升测试效率。

  5. 安全防护:完备的报警系统(超温、低水位、漏电等)保护昂贵的芯片样品与设备本身

 重要性:为何双85测试对半导体芯片至关重要?

“双85测试"(85℃温度,85%相对湿度)是评估半导体芯片耐湿性、抗腐蚀性和长期工作可靠性的核心加速测试方法。它能快速暴露芯片封装中的缺陷,如:

  • 封装树脂吸湿 导致的分层 和开裂。

  • 焊盘和引线 的电化学腐蚀。

  • 内部金属化 的迁移和腐蚀。
    通过此测试,可以预判芯片在终端产品(如汽车电子、户外设备)中的长期服役表现,是保证产品质量与可靠性的关键环节。




产品性能(核心技术参数)

  • 温度范围:-40℃ ~ +150℃ (重点优化+60℃至+130℃区间控制精度)

  • 湿度范围:10% ~ 98% R.H. (确保能稳定精确地维持85%RH工况)

  • 温变速率:可选配 ±3℃/min 至 ±10℃/min,满足快速温变应力筛选需求。

  • 温度波动度:≤±0.3℃ (稳定性)

  • 温度均匀度:≤±1.5℃ (确保所有芯片处于一致环境)

  • 湿度偏差:±1.5% R.H. (在85%RH点尤为关键)




设备亮点:专为芯片测试的高可靠性设计

本设备专为半导体行业的高标准可靠性测试而优化,核心亮点在于其长期运行稳定性、精确的温湿度控制以及针对芯片测试的细节考量。设备能够在85℃/85%RH 的高湿热条件下进行长达数千小时的连续不间断测试,内部结构采用全不锈钢并经过特殊防腐处理,有效抵抗湿热空气的侵蚀,确保在整个测试周期内性能无衰减,为芯片的寿命评估和失效分析提供可靠的环境条件。



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