广皓天中科院联合发布：AI 温控高低温湿热试验箱破解芯片耐候性难题

今日，广皓天检测仪器有限公司与中国携手，共同发布了一款 AI 温控高低温湿热试验箱，旨在攻克芯片在复杂环境下的耐候性难题。这一创新成果将为芯片行业的可靠性测试带来革命性变化，有望推动我国芯片技术的进一步发展。

值得一提的是，该试验箱的 AI 智能系统能够根据芯片的类型、测试需求以及过往测试数据，自动优化试验方案，预测试验结果，并实时调整试验参数，极大地提高了测试效率与准确性。例如，在对某款 5G 芯片进行测试时，AI 系统通过分析芯片的结构和材料特性，提前优化了温湿度变化曲线，使原本需要数周的测试周期缩短至一周以内，且测试结果的准确性得到显著提升。